SIGMAKOKI シグマ光機株式会社

アプリケーションシステム
検査
カタログコード:W2044-1
自動偏光解析システム APAS : Automatic Polarization Analysis System
基本構成例

各種計測・解析の基本となる光学系構成例です。
お客様の目的や要求性能に合わせた基本構成の組み換えや、機種選定にも対応しておりますので、営業部までお問合せください。

任意偏光光源 580,000円〜

光源後段に偏光操作光学系を設置し、任意の偏光状態で出力する光源です。

直線偏光、円偏光、楕円偏光の各偏光状態やアスペクト比、回転方向の設定など、偏光に関するあらゆる設定が可能です。

PCによる動的な制御が可能なため、偏光依存性のあるサンプルの評価や後段デバイス通過後の偏光補償などにご使用いただけます。


偏光測定装置 920,000円〜

入力光の偏光状態を計測・解析する測定装置です。

入力偏光のストークスパラメータS0〜S3をすべて求めることができます。


サンプル特性測定装置 1,800,000円〜

任意偏光光源、サンプル保持機構、偏光測定装置を組合せ、サンプル特性評価装置とした構成です。

透過型と反射型を組合せた構成も可能です。

反射型は偏光特性評価のほかエリプソメータとしてもご利用いただけます。


歪み検査装置 1,100,000円〜

脈理、加工歪等、サンプル内部の応力歪を可視化する装置です。

応力歪の分布を動画としてとらえることが可能です。


応用装置例

生産設備や測定装置として、専用装置の製作も承っております。
主要部分にカタログ標準品を使用することで安定した品質・性能と低コスト化を両立し、専用機として必要なユニットを追加することでスループットの向上を図るなど、
お客様のご用途に合わせて提案させていただきます。

円偏光測定装置 6,500,000円〜

縦型の透過光学系で偏光光学部品の特性評価を行うシステムです。

サンプル台上にサンプルをセットするだけで主要特性をすべて評価できます。

分光位相差、偏光パラメータの分光データ、偏光子の透過偏光比などが測定可能です。